仮説検定 – 1つの母不適合品率の検定と推定 解答・解説
問題1:製造ラインの改善確認
不適合品率10%(p0 = 0.10)、標本200個中12個が不適合品
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仮説の設定
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帰無仮説 H0 : p = 0.10(不適合品率は変わらない)
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対立仮説 H1 : p < 0.10(不適合品率は低くなった:片側検定)
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検定統計量 Z の計算
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標本比率 p̂ = 12 / 200 = 0.06
- Z = p̂-p0 / √p0(1-p0)/n = (0.06 – 0.10) / √0.10 x 0.90/200 = -0.04 / 0.0212 ≈ -1.887
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判定
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有意水準5%の片側検定の棄却域は、正規分布表II PからKpを求める表より、Z < -1.645 です。
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計算されたZ ≈ -1.887は棄却域に入るため、帰無仮説 H0 は棄却されます。
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結論: 有意水準5%で、不適合品率は従来より低くなったと言えます。
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問題2:品質基準の維持確認
不適合品率の許容限界は5%(p0 = 0.05)、400個のサンプル中、28個の不適合品
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仮説の設定
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帰無仮説 H0: p = 0.05
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対立仮説 H1: p > 0.05(基準より高い:片側検定)
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検定統計量 Z の計算
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標本比率 p̂ = 28 / 400 = 0.07
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Z = p̂-p0 / √p0(1-p0)/n = (0.07 – 0.05) / √0.05 x 0.95/400 = 0.02 / 0.0109 ≈ 1.835
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判定
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有意水準1%の片側検定の棄却域は、正規分布表II PからKpを求める表より、Z > 2.326です。
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計算された Z ≈ 1.835 は棄却域に入りません(帰無仮説は棄却されない)。
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結論: 有意水準1%では、不適合品率が基準の5%より高いとは断定できません。
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問題3:目標達成の検証
目標:不適合品率を1%(p0 = 0.01)以下
1000個中7個が不適合品
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仮説の設定
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帰無仮説 H0: p = 0.01
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対立仮説 H1: p ≠ 0.01(両側検定)
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検定統計量 Z の計算
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標本比率 p̂ = = 7 / 1000 = 0.007
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Z = p̂-p0 / √p0(1-p0)/n = (0.007 – 0.01) / √0.01 x 0.99/1000 = -0.003 / 0.003146 ≈ -0.954
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判定
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有意水準5%の両側検定の棄却域は |Z| > 1.96 です。
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計算された |Z| ≈ 0.954 は棄却域に入りません。
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結論: 有意水準5%で、目標の1%と有意な差があるとは言えません(目標値の範囲内であると解釈されます)。
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